APS-100超聲法粒度儀在ZnO納米顆粒和ZnO-EG納米流體方面的應(yīng)用

金屬氧化物納米結(jié)構(gòu)因其在太陽(yáng)能電池、電致發(fā)光器件、電致變色窗口和化學(xué)傳感器等許多技術(shù)中的潛在應(yīng)用而引起人們的廣泛關(guān)注。此外，聲音通過(guò)隨機(jī)介質(zhì)傳播也成為人們關(guān)注的課題，這些介質(zhì)包括膠體懸浮液、多孔材料、磁流變介質(zhì)和納米流體，其中納米流體由于其在不同領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用而引起了人們的極大興趣。

有研究者對(duì)ZnO納米顆粒和ZnO-EG、ZnO-water納米流體進(jìn)行了研究。研究過(guò)程中分別采用了XRD、SEM、TEM對(duì)ZnO納米顆粒進(jìn)行表征，采用APS-100對(duì)ZnO-EG納米流體進(jìn)行了粒徑分布和超聲衰減測(cè)量。

圖1. a: ZnO納米顆粒粉末樣品在不同蒸發(fā)速率下的XRD譜圖； b:(a)凝聚的ZnO納米顆粒的SEM圖像,(b)ZnO納米顆粒TEM圖像；c:ZnO-EG納米流體粒度分布曲線；d:純EG和ZnO-EG納米流體的速率與溫度關(guān)系；e:純EG和ZnO-EG納米流體的速率與溫度關(guān)系。

在該研究中，目前對(duì)納米顆粒的結(jié)構(gòu)和形態(tài)學(xué)研究表明，氧化鋅納米顆粒的結(jié)晶度取決于其合成過(guò)程中pH的蒸發(fā)速率。控制納米顆粒大小、形狀和分布的因素是由蒸發(fā)速率、溶液濃度和超聲波時(shí)間控制的溶液pH。氧化鋅納米流體中超聲波速度的溫度變化主要依賴于低頻區(qū)分散粒子的粒子體積分?jǐn)?shù)，且大于純基體（EG）中的速度。研究了目前納米流體樣品的速度與溫度之間存在非線性關(guān)系。在低頻區(qū)域，粘性損耗對(duì)總衰減是有效的，而在高頻區(qū)域，散射和粘性阻力損耗比較顯著。頻率、粒徑和濃度是超聲波衰減的控制參數(shù)。穩(wěn)定的氧化鋅納米流體的形成在本質(zhì)上是松弛的。因此，超聲波特性（速度和衰減）是表征納米流體的有效工具，因?yàn)樗峁┝擞杏玫男畔⒑吞匦浴Ｔ撗芯拷Y(jié)果和已知的納米晶氧化鋅的物理性質(zhì)為納米流體的進(jìn)一步研究和表征提供了一個(gè)新的維度。

胤煌科技推出的Zeta APS原液/高濃度粒度及Zeta電位分析儀具有以下技術(shù)優(yōu)勢(shì)：

√一個(gè)樣品池中，實(shí)現(xiàn)粒度分布（PSD）及 Zeta 電位的檢測(cè)；

√ 可通過(guò)攪拌或者流動(dòng)的形式直接測(cè)量樣品，無(wú)需稀釋；

√ 兼容水相 / 有機(jī)相，有 / 無(wú)顏色，酸 / 堿性（pH: 0-14）樣品類型；

√ 可測(cè)量多孔材料塊體的孔隙率和表面 Zeta 電位；

√ 可同時(shí)測(cè)量 pH 值、溫度、電導(dǎo)率、表面電荷密度、雙電層厚度和聲速等參數(shù)；

√ 在測(cè)量過(guò)程中，自帶樣品混合系統(tǒng)或者泵循環(huán)系統(tǒng)，不受顆粒沉降的影響；

√ 插入式 Zeta 電位傳感器允許在樣品池或獨(dú)立容器中進(jìn)行測(cè)量；

√ 自動(dòng)的電位滴定和容量滴定，用于簡(jiǎn)單和最快的 IEP；

√ 堅(jiān)固耐用，操作簡(jiǎn)單，維護(hù)工作量少，檢測(cè)快速；

胤煌科技(YinHuang Technology)是一家專注于為醫(yī)藥、半導(dǎo)體及化工材料等行業(yè)提供檢測(cè)分析設(shè)備及技術(shù)服務(wù)的高科技公司，致力于為客戶提供全面、準(zhǔn)確的檢測(cè)分析和解決方案。主營(yíng)產(chǎn)品包括不溶性微粒分析儀，可見異物檢查分析儀，原液粒度及Zeta電位分析儀，CHDF高精度納米粒度儀，高分辨納米粒度儀，溶液顏色測(cè)定儀，澄清度測(cè)定儀等，公司自主研發(fā)的YH-MIP系列顯微計(jì)數(shù)法不溶性微粒儀、YH-FIPS系列流式動(dòng)態(tài)圖像法粒度儀，YH-FIPS系列微流成像顆粒分析儀已經(jīng)在生物醫(yī)藥、半導(dǎo)體及材料化工領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用.