胤煌科技-光阻法不溶性微粒分析儀檢查原理及技術參數

　　YH-LEIP系列光阻法不溶性微粒分析儀是按照《CP/USP/JP/EP等藥典-不溶性微粒檢查-第一法-光阻法》檢查規定設計和研發的，主要用于注射劑通則提到的相關注射劑、輸液器具及相關包材的不溶性微粒研究。該設備采用高性能激光光源及補償電路，進樣狹縫及管路采用進口316L及進口PEFE材料，可以直接用于不同介質的不溶性微粒研究。

　　技術參數方面，YH-LEIP系列光阻法不溶性微粒分析儀有多種型號可供選擇，包括LEIP-6A、LEIP-6AS、LEIP-8A、LEIP-8AS、LEIP-16A、LEIP-16AS、LEIP-32A、LEIP-32AS、LEIP-64A、LEIP-64AS以及LEIP-100A。不同型號之間的區別主要在于通道數量、審計追蹤功能、計數范圍等方面。例如，LEIP-6A沒有審計追蹤功能，而LEIP-6AS則具有此功能;LEIP-100A的通道數量最多，為100個。

　　另外，該設備的檢查范圍為1~700μm，相對標準偏差≤1.5%(標準粒子≥1000粒/ml)，微粒檢查密度為0~20000粒/ml，通道分辨率≥95%(≥10μm通道)。攪拌速度為0~2000轉/分，速度可調。工作電源為220V，50Hz，工作溫度為0~40℃。

　　總結來說，YH-LEIP系列光阻法不溶性微粒分析儀是一款符合藥典標準的專業設備，適用于不同類型的不溶性微粒研究。用戶可根據自身需求選擇合適型號的產品，并了解其具體的技術參數，以便正確使用和維護。