智能光譜分析儀是在平時的光通信波分復用產品中較常使用到的儀表，其主要特點是動態范圍大，靈敏度好，分辨率帶寬小；比較適合于測試光信噪比。另外測量波長范圍大，一般在600-1700nm，但是測試波長精度時卻不如多波長計準確。

　　在光譜的測量、各參考點通路信號光功率、各參考點光信噪比、光放大器各個波長的增益系數和增益平坦度的測試都可以使用智能光譜分析儀。智能光譜分析儀現在也集成了WDM的分析軟件，可以很方便地把WDM的各個波長的中心頻率、功率、光信噪比等參數用菜單的方式顯示出來。

　　智能光譜分析儀的屏幕顯示測量條件、標記值、其它數據以及測量波形。屏幕各部分的名稱顯示參數如下：

　　1.光譜譜寬的測量

　　即光譜的帶寬，使用光譜分析儀可以測量LD、發光二極管的譜寬。在光譜的譜寬測量時，要特別注意光譜分析儀系統分辨率的選擇，即原理上光譜分析儀的分辨率應當小于被測信號譜寬的1/10，一般推薦設置為至少小于被測信號譜寬的1/5。

　　實際的測量中，為了能夠準確測量數據，一般選擇分辨率帶寬為0.1nm以下。分辨率帶寬RES位于SETUP菜單中的首項，直接輸入所要設定的分辨率帶寬的大小即可。當選擇的分辨率帶寬不同時，從光譜分析儀觀察到的光譜形狀有很大的不同，并且所測量得到的譜寬大小的不同。

　　在觀察光譜譜寬的同時，也可以通過光譜分析儀讀出光譜的中心頻率、帶寬、峰值功率和邊模抑制比等參數。同時可以啟動菜單，進行相應的標識，以方便量取所需要測試的參數值。

　　2.邊模抑制比的測量

　　邊模抑制比（SMSR）表示峰值能級與橫模能級之間的能級差值。一般測量邊模抑制比時，需要配合使用MARKER菜單和ANALYSIS菜單中相應的鍵。用MARKER菜單對主波峰值和z高的副波峰進行標識，讀取兩者的峰值功率值。邊模抑制比為z高峰與次高峰之間的能級差。可以通過ANALYSIS菜單中相應的子選項計算得到后的值。

　　3.增益的測量

　　在進行OA板或光放大器模塊測試的時候，需要測試增益參數（Gain）。增益定義為輸出信號功率outP與輸入信號功率inP之比。

　　在多波的情況下，還可以測試增益平坦度和增益斜率。其中，增益平坦度為增益的大值和小值之間的差值；增益斜率為兩個波長在光放大器工作在兩個增益狀態變化值的比值。增益斜率主要用來衡量光放大器的不同波長增益的相對變化值，增益斜率越小，說明光放大器增益變化時各波長的一致性越好，越容易實現各波長的增益均衡。

　　應用智能光譜分析儀進行增益斜率的測量時，需要假設光放大器工作在兩種增益狀態，然后分別在不同的波長點下進行增益點的測量，記錄各波長點測試得到的增益值，可以計算出增益斜率。

　　4.噪聲系數的測量

　　光譜分析儀的一項重要功能是測量EDFA的等效噪聲噪聲系數（NF），簡稱噪聲系數。

　　利用光譜分析儀進行NF的測量時，需要用到TRACE菜單和ANALYSIS菜單。首先將輸入光纖放大器的輸入光設置為可寫狀態，點擊writeA，然后固定該軌跡Fix A；再將從光纖放大器輸出的光的光譜設置為可寫狀態，點擊writeB，然后固定該軌跡Fix B；之后再按ANALYSIS菜單中選擇EDFA NF子選項，即可得到光譜分析儀計算NF的結果。