超聲電聲法Zeta電位儀操作注意事項

　　粒子表面存在的凈電荷，影響粒子界面周圍區域的離子分布，導致接近表面抗衡離子（與粒子電荷相反的離子）濃度增加。于是，每個粒子周圍均存在雙電層。繞粒子的液體層存在兩部分：一是內層區，稱為緊密層（stern層），其中離子與粒子緊緊地結合在一起；另一個是擴散層，其中離子松散地與粒子相吸附。在分散層內，有一個抽象邊界，在邊界內的離子和粒子形成穩定實體。當粒子運動時，在此邊界內的離子隨著粒子運動，但此邊界外的離子不隨著粒子運動。這個邊界稱為流體力學剪切層或滑動面（slipping plane）。在這個邊界上存在的電位即稱為zeta電位。

　　超聲電聲法Zeta電位儀操作注意事項：

　　1、若要進行酸堿滴定測等電點或測PH值，則每次實驗前須校正PH探針；若要測試溶液電導率，則須校正電導率。主探頭可每周校正一次；

　　2、每次更換樣品均需清洗主探頭、PH探針以及容器，建議擦干，以免前面殘留粉末影響實驗結果；

　　3、實驗結束后要清洗主探頭、PH探針和容器，并將PH探針放回酸性緩沖液中；

　　4、若進行酸堿滴定則每次關機前需將酸堿滴定管清洗3~5次。

　　超聲電聲法Zeta電位儀較大顆粒的樣品濃度上限，由其引起多重散射的趨勢決定。雖然Zetasizer對多重散射不是十分敏感，但隨著濃度增加，多重散射效應越來越占優勢，在達到某一濃度時，生成過多的多重散射，會影響測量結果。當然，如此高的濃度不應用于準確測量，上表中給出了不同粒徑粒子濃度的粗略估算。通用規則是，在多重散射和粒子相互作用影響結果之前，以可能的濃度進行測量。可以假定樣品中的灰塵污染對高濃度和低濃度是相同的，因此樣品濃度增加，從樣品得到的散射光強相對灰塵散射光強有所增加。