高濃度納米粒度及zeta電位分析儀將納米粒度分析和 Zeta 電位分析功能集成于一體，一次測量即可同時獲得納米顆粒的粒度分布和 Zeta 電位信息。這種多功能一體化的設計不僅方便了操作，減少了樣品用量和測量時間，還能夠了解納米材料的特性。通過對比粒度和電位信息，可以深入研究納米顆粒的表面性質、分散穩定性以及與其他物質的相互作用機制等，為納米材料的優化設計和應用提供更豐富的依據。
 

　　由于其能夠準確測量高濃度納米體系，并且具備多種分析功能，該儀器在眾多領域都有廣泛的應用。在納米材料研發領域，可用于研究納米顆粒的合成、生長過程以及表面修飾對粒度和電位的影響；在生物醫藥領域，可用于分析納米藥物載體的粒度和表面電荷特性，評估其藥物載載能力和生物相容性；在化工、能源等領域，對于納米催化劑、納米復合材料等的性能研究和質量控制也具有重要價值。
 

　　高濃度納米粒度及zeta電位分析儀可適用于高濃度體系：
 

　　1.突破傳統限制
 

　　-傳統的納米粒度和 Zeta 電位分析儀器在高濃度樣品測量時往往面臨諸多問題，如多重散射影響大、顆粒團聚導致測量結果失真等。而高濃度納米粒度及zeta電位分析儀專門針對高濃度體系設計，能夠有效克服這些困難，實現對高濃度納米懸浮液的準確測量。這使得研究人員可以直接對實際應用中的高濃度納米材料體系進行表征，無需對樣品進行過度稀釋，更貼近實際工況，提高了測量結果的實用性和可靠性。
 

　　2.提高測量效率
 

　　-能夠直接測量高濃度樣品，大大減少了樣品制備的時間和成本。避免了因稀釋樣品可能引入的誤差和對樣品體系的改變，同時也節省了大量用于稀釋樣品的溶劑和時間。對于大規模的樣品篩選和質量控制工作，高濃度測量能力使得分析過程更加快捷，提高了工作效率。